残差英语

Probability Statistics 概率统计

正确的写法是Sum Of Squares（美式用法）或者 Quadratic Sum（英式用法）

Acceptable quality level AQL 合格质量水平Acceptance testing procedure ATP 验收检验规程Accuracy 정확성 准确度Affinity diagram 친화도 亲和图Alpha risk 제1종오류(생산자위험) 第一类错误Alternative hypothesis: H1 대립 가설 备择假设Analysis of covariance 공분산분석 协方差分析Analysis of variance 분산 분석 方差分析Average 평균 平均Bais 편의 偏倚Benched at extremes 양쪽 특이형 两侧特异型Benchmarking 벤치 마킹 水平对比Best practice 베스트 프랙티스 BPC(最优方法)Beta risk (b) 제2종오류(소비자위험) 第二类错误bimodal 쌍봉형[히스토그램] 双峰型[直方图]Binomial distribution 이항 분포 二项分布Black belt - BB 블랙 벨트 黑带Blocking 블럭화 划分区组Box plot 상자그림 箱线图Box-Cox transformation Box-Cox 변환 Box-Cox 转换Brain storming 브레인 스토밍 头脑风暴法Business Alignment Plan 목표 제품 선정 계획 目标制品选定计划Cause & Effect diagram 특성 요인도 因果图CDAM (Combine-Delete-Add-Modify) 해결안 평가방법 解决案评价方法Central limit theorem 중심 극한 정리 中心极限定理Central line 중심선 中心线Champion 챔피온 倡导者Chi-square distribution 카이 스퀘어 분포 χ方分布Chi-square test 카이 스퀘어 검정 χ方检验Cluster sampling 집락표본추출 分群取样法Common cause 불가피 요인 偶然原因Complete randomized design 완전랜덤실험법 完全随机化设计Confidence coefficient (1-α） 신뢰수준 置信水平Confidence interval 신뢰 구간 置信区间Confounding 교락 混杂Continuous data 연속 데이터 连续型数据Control assessment matrix 통제 평가 매트릭스 控制评价矩阵Control chart 관리도 控制图Control limits 관리 한계 控制界限COPQ (Cost Of Poor Quality) 품질실패비용 劣质成本Core process 핵심 공정 核心工程Correlation coefficient 상관계수 相关系数Cp (Potential process capability Index) 공정능력지수 过程能力指数Cpk (Process capability index) 공정능력지수 过程能力指数（考虑偏倚）Critical Business Requirement - CBR 사업 핵심 요구 사항 企业核心要求事项Critical Customer Requirement - CCR 고객 핵심 요구 사항 顾客核心要求事项Critical To Process CTP 关键过程特性Critical To Quality CTQ 关键质量特性Critical value 임계치 临界值Cross-functional team CFT CFTCustomer 고객 顾客Customer value added activity 고객 가치부가 顾客价值增值Defect 결함 缺陷Defect Per Million Opportunity DPMO 百万机会缺陷数Degree of freedom 자유도 自由度dependent variable 종속변수 因变量Design of Experiment 실험 계획법 试验设计DFM (Design For Manufacturability) 面向制造的设计DFSS (Design For Six Sigma) DFSS 6Sigma设计Discrete data 이산 데이터 离散型数据DPU (Defect Per Unit) 단위당 결점수 单位缺陷数EMEA (Error Mode and Effect Analysis) Enabling process 지원 공정 支援过程explanatory variable 설명변수 解释变量Factor 인자 因子Factor level 인자 수준 因子水平F-distribution F- 분포 F- 分布Final yield(YF) First pass yield (YFp) flat 평편형 平顶型FMEA (Failure Mode & Effect Analysis) 고장모드및 효과분석 潜在失效模式及影响分析Force field analysis Force field 분석 Fractional factorial design 부분 배치 법 部分实施因子设计法F-test F-검정 F-检验Full factorial design 완전 배치법 全因子试验法Functional deployment mapping 기능 전개 매핑 功能展开图F-value F-값 F值Gauge % R&R 게이지R&R Green belt - GB 그린 벨트 绿带Hidden factory 숨은 공장 隐蔽的工厂Histogram 히스토 그램 直方图Hypothesis testing 가설 검정 假设检验independent variable 독립변수 自变量Input indicator Input 척도 Input 尺度Interaction 교호작용 交互作用Interval estimate 구간추정 区间估计Kano analysis 카노 분석 卡诺分析key performance index KPI 关键性能指标Lack of fit 적합결여 失拟Level of confidence 신뢰수준 置信水平Linearity 선형성 线性Long term process sigma 47 장기 공정 시그마 长期过程Sigma值Lower control limit 관리하한 控制下限Main effect 주효과 主效应Manufacturability Master black belt - MBB 마스터 블랙 벨트 黑带大师Mean 평균 平均Median 중앙값 中值Mode 최빈값 众数Mean square of error MSE 均方误Mind mapping 심리 매핑 脑图Multiple regression 다중회귀법 多元回归分析Multi-stage sampling 다단계표본추출 多阶段取样法Multi-vary analysis Multi-vary 분석 Multi-voting 다중 투표 多重投票Nested design 嵌套设计Non-normal distribution 비 정규 분포 非正态分布Non-random pattern 이상 패턴 异常趋势Non-value added activity 비 가치부가 非增值活动Normal distribution 정규분포 正态分布Normality test 정규성 검정 正态性检验Normalized yield (YNorm) NP chart NP 차트 NP图（不良数图）Null hypothesis: H0 귀무 가설 原假设Operational definition 측정 운용 정의 Operational value added activity 운영 가치부가 Opportunity for Error 불량 기회 缺陷机会Outlier 이상 점 异常点Output indicator Output 척도 Output 尺度Pareto analysis 파레토 분석 帕累托分析Pilot point estimate 점추정 点估计Poisson distribution 포아송 분포 泊松分布poka-yoke 포카요케 防差错措施Pooled standard deviation Pooled 표준 편차 Pooled 标准偏差Population 모집단 总体Precision 정밀도 精密度Prediction equation 예측 방정식 预测方程式probability density function,PDF 확율밀도함수 概率密度函数probability sampling 확율표본추출 随机样本抽取法Problem statement 문제 기술서 问题描述书Process capability index 공정 능력 지수 过程能力指数Process control system 공정 관리 시스템 过程控制系统Process indicator Process 척도 Process 尺度Process mapping 프로세스 매핑 过程映射Process sigma 공정 시그마 过程 sigmaProduct sigma 제품 시그마 产品 sigmaP-value P-값 P-值Qualitative process analysis 정성 공정 분석 定性过程分析Quality function Deployment - QFD 품질 기능 전개 质量功能展开Quick win Random sampling 무작위 샘플링 随机抽样Random word 무작위 단어 随机词Randomized block design 랜덤블럭화설계 随机区组设计Regression analysis 회귀 분석 回归分析Repeatability 반복성 重复性Replication 반복 重复Replication & standardization 전파와 표준화 传播和标准化Reproducibility 재현성 再现性Residual 잔차 残差Response surface analysis 반응 표면 법 响应曲面法Response variable 반응변수 响应变量Risk assessment matrix 위험 평가 매트릭스 风险评价矩阵Rolled throughput yield - YRT 누적 직행 수율 流通合格率RPN (Risk Priority Number) 风险系数R-square 결정 계수 决定系数Run chart 런 차트 运行图Scatter diagram 산점도 散点图Screening experiment Screening 실험 筛选实验Sensitivity analysis 민감도 분석 灵敏度分析Short term process sigma 단기 공정 시그마 短期过程sigmaShow stopper 장애물 障碍物Sigma calculation table 시그마 계산표 sigma计算表Significance level 유의 수준 显著性水平Six thinking hat 여섯가지 사고를 위한 모자 六顶思考帽Skewed 경사형 倾斜型Solution mapping 문제 해결 매핑 问题解决图Special cause 가피 요인 特殊原因Standard deviation 표준 편차 标准偏差Standard normal distribution 표준 정규분포 标准正态分布Statistical process control 통계적 공정 관리 统计过程控制Stratification 층별화 分层Stratified sampling 층별또는 층화표본추출 分层取样Stretch goal 스트레치 목표 Systematic sampling 계통표본추출 系统取样法t-distribution t-분포 t-分布Team charter 팀 헌장 Team 任务书Tips for innovation problem solving TRIZ 创造性问题解决理论Top down chart Top down 차트 Top down 图Top down goal setting Top down 형 목표 설정 tolerance 공차 容差total productive maintenance TPM 全面生产维护total quality control TQC 全面质量控制total quality management TQM 全面质量管理Transactional Six Sigma t-Test t-검정 t-检验t-value t-값 t-值Type I error 제 1 종 과오 第一类错误Type II error 제 2 종 과오 第二类错误value analysis 가정에 대한 도전 对假设的挑战value analysis 가치 분석 价值分析Variance 분산 方差 Variation 변동 变动Voice Of Business - VOB 사업의 소리 企业声音Voice Of Customer - VOC 고객의 소리 顾客声音X-bar and R control chart X -R 차트 均值-极差控制图X-bar and S control chart X -S 차트 均值-标准差控制图z-value z-값 z-值

最好的和第二好的歧义组合意义含糊的歧视。的f值是通常选择比较(例如。欧拉和朗道,1992年),和w比率(王et al。,1998年)也相比。尽管固定解决方案显示几乎没有变化之前和之后的系统误差消除,浮动解决方案是系统误差的影响更大程度上。系统误差后缓解,浮动解决方案接近固定解决方案,和稳定性印度

为了接受以上模型，我们测试了残差、多重共线性和非方差齐性的当量浓度。5残差当量浓度。由于样本大小（n=160），通常测试过程（t和F测试）仍然是有效接近多重共线性(Greene, 1997, p. 341; Gujarati, 1995, p. 317)，虽然残差不符合正态分布（克默果夫-史密诺夫统计量=0.08, p= 0.02）。根据莫纳德（1995），容许残留值低于0.20 表明存在多重共线性问题。在我们的模型中，最小值是0.64。另一种方法，根据迈尔斯（1990），鲍尔曼和O'康奈尔（1990），方差增长因子(VIF)大于10表明可能存在一个多重共线性问题。在我们的模型中，最大值是1.57。非方差齐性：怀特测试（White, 1980）没有发现任何非方差齐性问题。n·R2=160·0.29=46.4, for X2 34 0.05= 48.7;因此我们不拒绝非方差齐性的虚无假设。

sum of squares如果是残差平方和 residual sum of squares回归平方和 explained sum of squares总离差平方和 total sum of squares

正态的残差。由于样本量（N = 160），通常的测试程序（在T和F测试）仍然有效渐近（格林，1997年，第341页;古吉拉特语，1995年，第317页），即使残差不遵循正态分布（柯尔莫哥洛夫，斯米尔诺夫= 0.08，P值0.02）。 多重共线性。根据孟纳德(1995),误差值低于0.20显示多重共线性问题。此外，以下迈尔斯（1990年）和博夫曼和O'Connell（1990），一个方差通货膨胀因素(国际)以上10表示多重共线性问题可能存在的问题。在我们的模型的最大值是1.57。 非方差齐性白色的测试(白色,1980年)并没有透露任何非方差齐性问题：诺拉?R2 = = 46.4 160?0.29,冷却34 0.05 = 48.7;因此,我们没有拒绝原假设的非方差齐性。