粗糙度的英语

高度特征参数

1、轮廓算术平均偏差 Ra：在取样长度（lr）内轮廓偏距绝对值的算术平均值。在实际测量中，测量点的数目越多，Ra越准确。

2、轮廓最大高度 Rz：轮廓峰顶线和谷底线之间的距离。

在幅度参数常用范围内优先选用Ra 。在2006年以前国家标准中还有一个评定参数为“微观不平度十点高度”用Rz表示，轮廓最大高度用Ry表示，在2006年以后国家标准中取消了微观不平度十点高度，采用Rz表示轮廓最大高度。

间距特征参数

用轮廓单元的平均宽度 Rsm表示。在取样长度内，轮廓微观不平度间距的平均值。微观不平度间距是指轮廓峰和相邻的轮廓谷在中线上的一段长度。

形状特征参数

用轮廓支承长度率Rmr(c)表示，是轮廓支撑长度与取样长度的比值。轮廓支承长度是取样长度内，平行于中线且与轮廓峰顶线相距为c的直线与轮廓相截所得到的各段截线长度之和。

扩展资料

表面粗糙度的成因

表面粗糙度一般是由所采用的加工方法和其他因素所形成的，例如加工过程中刀具与零件表面间的摩擦、切屑分离时表面层金属的塑性变形以及工艺系统中的高频振动等。

由于加工方法和工件材料的不同，被加工表面留下痕迹的深浅、疏密、形状和纹理都有差别。表面粗糙度与机械零件的配合性质、耐磨性、疲劳强度、接触刚度、振动和噪声等有密切关系，对机械产品的使用寿命和可靠性有重要影响。

表面粗糙度与机械零件的配合性质、耐磨性、疲劳强度、接触刚度、振动和噪声等有密切关系，对机械产品的使用寿命和可靠性有重要影响。一般标注采用Ra。

相关的规范有“GB/T 1031-2009《表面结构 轮廓法 表面粗糙度参数及其数值》”和“GB/T 131-2006 (ISO 1302:2002)《表面结构的表示法》”。

参考资料

百度百科-表面粗糙度

the roughness of the interface

回答和翻译如下：

半导体行业里的"粗糙度"。

Roughness" in the semiconductor industry.

1、RA：表示轮廓算术平均偏差。

在取样长度内，沿测量方向(Y方向）的轮廓线上的点与基准线之间距离绝对值的算术平均值。

2、RZ：表示微观不平度十点高度。

是指在取样长度内5个最大轮廓峰高的平均值和5个最大轮廓谷深的平均值之和。

3、Rp：表示最大轮廓波峰高度。

在取样长度内，最大的轮廓最高峰顶线和最低谷底线之间的距离。

4、Rq：表示均方根粗糙度。

5、RSM：表示轮廓单元的平均宽度。

在取样长度内，轮廓微观不平度间距的平均值。

扩展资料：

表面粗糙度评定依据

1、取样长度

是评定表面粗糙度岁规定一段基准线长度。应根据零件实际表面的形成情况及纹理特征，选取能反映表面粗糙度特征的那一段长度，量取取样长度时应根据实际表面轮廓的总的走向进行。规定和选择取样长度是为了限制和减弱表面波纹度和形状误差对表面粗糙度的测量结果的影响。

2、评定长度

是评定轮廓所必须的一段长度，它可包括一个或几个取样长度。由于零件表面各部分的表面粗糙度不一定很均匀，在一个取样长度上往往不能合理地反映某一表面粗糙度特征，故需在表面上取几个取样长度来评定表面粗糙度。评定长度一般包含5个取样长度。

参考资料来源：百度百科-粗糙度