关于单晶质子导电性测试用什么仪器相关资料如下单晶质子导电性测试用的仪器运用了第四代集成电路设计、生产。仪器采用热电法测量硅单晶型号，配置了可自动恒温的热探笔，并由液晶器件直接发显示N、P型。对于电阻率小于1000Ω.cm的硅片、块都可以准确地鉴定出导电型号。适用范围适合检测硅芯，检磷棒，检硼棒，籽晶等圆柱晶体硅适用于西门子法、硅烷法等，生产原生多晶硅料的企业适用于物理提纯生产多晶硅料生产企业适用于光伏拉晶铸锭及 IC 半导体器件企业适用于科研部门、高等院校及需要超大量程测量电阻率的企业产品特点仪器消除了珀尔帖效应、塞贝克效应、少子注入效应等负效应的影响，因此测试精度大大提高测量精度高，除了具有厚度修正功能外、还有温度修正、圆片直径修正等功能%特的设计能有效消除测量引线和接触电阻产生的误差， 实现了测量的高精度和，宽的量程范围双数字表结构使测量%，，操作%简便具有强大的测试数据查询及打印功能测量系统可实现自动换向测量、求平均值、，值、，值、平均百分变化率等四探针头采用进口红宝石轴套导向结构，使探针的游移率减小，测量重复性大大提高采用进口元器件，留有%大的，系数，大大提高了测试仪的，性和使用寿命测量电流采用高度稳定的特制恒流源（万分之五精度），不受气候条件的影响具有正测反测的功能，，测试结果的准确性具有抗强磁场和抗高频设备的性能
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