硬件工程师考试常考题

Power layout rule Placement 1.  DCDC的3个电流回流路径         PWM信号为high时，Vin-high side MOS-L-Cout/负载-Co CAP GND回流路径。      PWM为low时，L/Cout-负载-Co CAP GND回流路径。      High-side MOS G极电流路径，Cboot/VCC-Rboot-driver-Rgate。      电流的环路相当于一根流着电流的线圈，类似于一根天线， L与环路面积成正比，与周长成反比，环 路 面积越大，EMI辐射越大，所以在placement时需保证回流路径最小。 2.    DCDC SW/PWM/MOS gate/Vin/BOOT信号为干扰源，di/dt or dv/dt，所有net/via/shape应远离这些net，space至少15mils以上。 3.    DCDC FB/ compensation/SVID/Isense/Tsense/Vsense/Vref…模拟/敏感信号应远离开关电源本身的干扰源，走线长度尽量短，换层尽量少，减小引线寄生容抗和感抗。 4.    电感下方镂空，不允许走线，特别是高速信号、敏感信号、频率点接近开关频率信号、逻辑电平较低的信号等等，以防串扰和EMI。 5.   BST Cboot和Rboot摆放应尽量接近BST pin和SWpin，如Vin power shape换层切割注意换层处形状最好保持重叠一致。 6.   Vin去耦电容的摆放应离pin脚尽量近，且尽量摆放在同一层，电容排列按从大到小排列，小电容去耦半径较小。Vo芯片端输出电容同样应靠近电感和芯片由从大到顺序摆放。 7.   电源各子系统的摆放不要集中在一块，间隔一定距离，保持良好的散热条件。 8.   Tsense器件（thermal sensor/温敏电阻）应靠近所需要采样点，远离不相关的发热源。 9.  Thermal pad及power GND多打via孔，减小寄生电容和等效热阻，如芯片中心的GND pad，发热元器件的GND shape，利于热量流通到地层散热。 10.  发热元器件，如电感/MOS，不能正反面均放置。 Trace route 1.    各个电流全盘回路应依据输出电流和叠层厚度检查shape/via/net走线是否满足。如Vin-MOS-L-C等。铜皮过电流密度30A/m2，按经验值铜皮40mil走1A，18D via ，30D via 1A；1oz铜皮20mil走1A，18D via 1A，需要考虑换层层面是否都是1oz。 2.    BST线路trace width>20mils或按照芯片spec要求，support更大充电电流，利于high-side MOS的开关速度。 3. LGATE/HGATE/compensation等信号走线width >10mils或按spec要求。 4. SW/PWM/BST等干扰源信号相邻层不能有敏感/高频信号平行走线compensation/Isense/Tsense/Vsense/Vref等走线width需要按经验和spec加宽(>10mils)及做GND屏蔽，与其他net/via/shape spacing 15mils以上。 5. 所有重要/电源/高频信号的走线要有连续的参考层，特别是有特殊情况挖了相邻GND参考层的，与考层距离会引起特性阻抗变化，造成阻抗不连续，引起反射。 Current path check or IR drop simulation 在电流的考量中，我们往往清楚每个power的输出电流和device的负载电流，但check的仅仅在输出端和负载端，并没有check电流输出过程。 比如DCDC ，各device 5+5+5，我们经常只check输出端shape 40*15=600mils和输入端某个device A 5*40=200mils，但有可能device A和B在一边，device C在主板另一边，而layout分shape时这一路只分了200mils，layout也注意到device A和device B输入端都铺了200mils，但事实上前面的过程其实只有200mils。事实上我们的device远比3个多，就更容易犯错误，导致device供电不足。 我们根据CPU/PCH/IC/device power consumption制作power budget表格，每一个power从电流最源头开始check，highlight整个power rail，check current path是否OK。 High-speed signals Theory 1. 信号的设计和layout都是为了信号功能和信号完整性，了解信号的本质能够帮助我们理解为什么要这样走线。 2. 高速信号的定义，信号的走线长度大于信号波长的1/6，或者信号的上升时间小于传输延时TD 6倍时，该信号在传输时视为高速信号。[if !supportLists]l  [endif]信号传输的本质是电磁场的建立与传播。故信号需要参考层构成完整的回流路径，在低频时信号总是走低阻抗路径，高频时感性阻抗成为影响阻抗的主要因素，高频时信号总是走低感抗路径。 3. 信号完整性问题大致分为3种，反射、串扰、EMC。反射的本质是阻抗不匹配，串扰的本质是互感和互容，EMC的本质是电压电流引起的电磁场变化。 4. 我们在分析信号时，不能单纯从时域角度去看，如数字信号的输出波形是完美的矩形波，在频域里，通过频谱可以看到其有基波和谐波的定义，了解频域的知识有助于理解信号。 5. via存在寄生容抗会损耗高频分量，via寄生感抗增加时延TD，引起jitter增大 6. 信号频率上升到几GHz后，信号的传输会出现趋肤效应，电流开始往传输线表面分布，在高频时，感抗将成为影响阻抗的主要因素，电流总是流过最小的感抗路径。 Layout rule 1. layout check应习惯打开TOP/BOT以及邻近参考层检查，打开TOP/BOT目的是避免信号走在大dv/dt、dI/dt、磁性、晶振等器件下方，避免与pad/via/螺丝孔距离过近；打开邻近层，一方面便于检查参考层，一方面避免相邻层并行走线。 2. 所有的高速信号应有连续的参考层，保持特性阻抗不变；如果参考层发生变化，在前后参考层间增加耦合电容。 3. 时钟信号是EMC影响的最大因素之一，时钟线应尽量少打via，保持安全的3W/4W （15mils）spacing 原则（3W能减小70%的电场干扰），避免和其他走线并行走线。时钟晶振下方镂空，不要走线，并对CLK信号包地处理。 4. 所有的高速信号都必须有良好的回流路径，减小电流回流路径。高速信号换层需要在信号via周围50mils内增加参考层via，信号换层参考层也会变化，增加换层via，保证前后参考层的连续。 5. 高速信号的拐角遵循>120°原则，过小的拐角等于线宽变过大，导致特性阻抗突变严重，引起阻抗不连续，造成信号反射；另一方面，拐角可以等效于一个很小的容性负载，减缓信号上升时间。 6. 高速信号相邻层避免并行走线，以大于30°角度走线（垂直走线is perfect），减少层间串扰（串扰的本质），目前大部分signal层间都有GND层，能够极大地减小层间串扰。 7. 高速信号差分对走线保持并行，两者之间避免via、器件存在。 8. 差分对之间的绕线，应尽量在靠近导致长度不一致的那端绕线，这样阻抗不连续出现的反射只会在源端/末端就产生，不会在走线中被不断传播放大；单次绕线长度不宜超过100mils，绕线的每段应保持一致，这样能够保证等效电气长度最短。 9. 短桩线stub会增加信号存在寄生容抗和引线电感，应尽量短，没必要的尽量去除，如测试点、co-lay线路、pull high/low等。 10. 高速差分对P/N mismatch应符合spec，一般layer ±10mils，total ±5mils。 11. 高速信号线避免在多层走线时形成等效的闭环，自环将引起EMI/EMS问题。 12. Layout走线长度不得与其波长成整数倍关系，以免产生谐振现象，λ=v/f，FR4信号传播速率为光速的1/2。 13. 高速信号的串联匹配电阻应靠近发送端/接收端摆放（串联匹配电阻一般在源端），并联匹配电阻应根据要求靠近发送端/接收端端摆放。 14. 耦合电容一般TX摆放在发送端，RX摆放在接收端。对于有redriver/retimer的设计，根据其相应spec要求摆放（有的spec要求都摆放在redriver端） 15. 高速信号走线应避开高压高流高温变化、感性、磁性信号及器件，dv/di/会引起电场/磁场变化引发EMC问题，高温影响介电常数引发阻抗变化，在layout review时养成打开TOP/BOT层检查的习惯。 16. 芯片内部Die到封装，以及breakout走线都存在引线电感，breakout尽量走短。 17. 高速信号的layout check应打开相邻层、TOP层、BOT层，从发送端开始检查。 18. 高速信号在板边走线时，靠近板边的那段在信号与板边需增加GND屏蔽，防止边沿效应产生的EMC问题。 19. 高速信号对应的参考层区域应该避免切割、打anti-pad，参考层变化会引起特性阻抗变化，切割会导致电流回流路径过长，较worse的情况会使电流形成环路造成EMI问题。 20. DDR 同一组的CLK与CMD/CTRL/ADD信号mismatch<1000mils，同一组CMD和ADDR mismatch <50mils,CLK与CTRL信号mismatch<25mils

一般笔试重点测试考生的政策理论水平、分析解决实际问题的能力和文字表达能力等综合素质。题型主要包括论述题、案例分析题、公文处理、对策性文章等形式。归纳起来就是读材料,看材料中反映了什么问题，然后提出解决问题的办法。考试时间一般是小时，3-4道题。案例分析题可能会有两问，公文写作每年公文种类不定，有时是通知，有时是调研报告，有时又是会议纪要，有时会是公文改错题等等，大作文一般是对策性论文，就是写怎么办的文章。分值分布一般是案例分析30-40分（2道题左右），公文写作（1道题）20-30分，对策性论文（1道题）40分。

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